Все статьи автора в журнале: Глушко А.А.

1. Компьютерное моделирование стойкости распределённых микросистем к воздействию тяжёлых заряженных частиц

   Computer simulation of the distributed microsystems resistance to the influence of heavy charged particles

   Номер: 2020 / 11

   Глушко А.А. | Glushko A.A. | Зинченко Л.А. | Zinchenko L.A. | Макарчук В.В. | Makarchuk V.V. | Терехов В.В. | Terehov V.V. | Михайличенко С.С. | Mihaylichenko S.S. | Палий Д.Д. | Paliy D.D. | lzinchenko@bmstu.rulzinchenko@bmstu.ru

   Авторы статьи

   Authors

   Глушко А.А.

   Glushko A.A.

   Зинченко Л.А.

   Zinchenko L.A.

   Макарчук В.В.

   Makarchuk V.V.

   Терехов В.В.

   Terehov V.V.

   Михайличенко С.С.

   Mihaylichenko S.S.

   Палий Д.Д.

   Paliy D.D.

   lzinchenko@bmstu.ru

   lzinchenko@bmstu.ru

   ---

   Компьютерное моделирование стойкости распределённых микросистем к воздействию тяжёлых заряженных частиц

    

   УДК 681.586

    

   Предложены подходы к моделированию воздействия тяжёлых заряженных частиц на характеристики распределённых микросистем. Представлены результаты компьютерного моделирования их воздействия на двумерные распределённые электростатические микросистемы и проведён сравнительный анализ чувствительности указанных микросистем различной геометрии к их воздействию. На основе анализа сделаны выводы о преимуществах использования элементов фрактальной формы при проектировании микросистем, обладающих повышенной стойкостью к воздействию тяжёлых заряженных частиц.

   ---

   Ключевые слова

   микроэлектромеханические системы; МЭМС; распределённые МЭМС; микросистемы; фрактал; радиация; протоны

   Computer simulation of the distributed microsystems resistance to the influence of heavy charged particles

   Approaches to modeling the influence of heavy charged particles on the characteristics of distributed microsystems are proposed. The results of computer simulation of their influence on two-dimensional distributed electrostatic microsystems are presented and a comparative analysis of the mentioned microsystems sensitivity with various geometries to their influence is carried out. Conclusions about the advantages of using fractal-shaped elements at the microsystems designing with increased resistance to the influence of heavy charged particles are drawn on the grounds of analysis.

   ---

   Keywords

   microelectromechanical systems; MEMS; distributed MEMS; microsystems; fractal; radiation; protons