Все статьи автора в журнале: Зинченко Л.А.

1. Компьютерное моделирование стойкости распределённых микросистем к воздействию тяжёлых заряженных частиц

   Computer simulation of the distributed microsystems resistance to the influence of heavy charged particles

   Номер: 2020 / 11

   Глушко А.А. | Glushko A.A. | Зинченко Л.А. | Zinchenko L.A. | Макарчук В.В. | Makarchuk V.V. | Терехов В.В. | Terehov V.V. | Михайличенко С.С. | Mihaylichenko S.S. | Палий Д.Д. | Paliy D.D. | lzinchenko@bmstu.rulzinchenko@bmstu.ru

   Авторы статьи

   Authors

   Глушко А.А.

   Glushko A.A.

   Зинченко Л.А.

   Zinchenko L.A.

   Макарчук В.В.

   Makarchuk V.V.

   Терехов В.В.

   Terehov V.V.

   Михайличенко С.С.

   Mihaylichenko S.S.

   Палий Д.Д.

   Paliy D.D.

   lzinchenko@bmstu.ru

   lzinchenko@bmstu.ru

   ---

   Компьютерное моделирование стойкости распределённых микросистем к воздействию тяжёлых заряженных частиц

    

   УДК 681.586

    

   Предложены подходы к моделированию воздействия тяжёлых заряженных частиц на характеристики распределённых микросистем. Представлены результаты компьютерного моделирования их воздействия на двумерные распределённые электростатические микросистемы и проведён сравнительный анализ чувствительности указанных микросистем различной геометрии к их воздействию. На основе анализа сделаны выводы о преимуществах использования элементов фрактальной формы при проектировании микросистем, обладающих повышенной стойкостью к воздействию тяжёлых заряженных частиц.

   ---

   Ключевые слова

   микроэлектромеханические системы; МЭМС; распределённые МЭМС; микросистемы; фрактал; радиация; протоны

   Computer simulation of the distributed microsystems resistance to the influence of heavy charged particles

   Approaches to modeling the influence of heavy charged particles on the characteristics of distributed microsystems are proposed. The results of computer simulation of their influence on two-dimensional distributed electrostatic microsystems are presented and a comparative analysis of the mentioned microsystems sensitivity with various geometries to their influence is carried out. Conclusions about the advantages of using fractal-shaped elements at the microsystems designing with increased resistance to the influence of heavy charged particles are drawn on the grounds of analysis.

   ---

   Keywords

   microelectromechanical systems; MEMS; distributed MEMS; microsystems; fractal; radiation; protons

2. Иерархический дескриптор для отображения информации о многослойных радиационно стойких экранах защиты электронной аппаратуры

   Hierarchical descriptor for displaying information about multilayer radiationresistant shields for electronic equipment protection

   Номер: 2021 / 04

   Зинченко Л.А. | Zinchenko L.A. | Казаков В.В. | Kazakov V.V. | Миронов А.А. | Mironov A.A. | lzinchenko@bmstu.rulzinchenko@bmstu.ru

   Авторы статьи

   Authors

   Зинченко Л.А.

   Zinchenko L.A.

   Казаков В.В.

   Kazakov V.V.

   Миронов А.А.

   Mironov A.A.

   lzinchenko@bmstu.ru

   lzinchenko@bmstu.ru

   ---

   Иерархический дескриптор для отображения информации о многослойных радиационно стойких экранах защиты электронной аппаратуры

    

   УДК 004.09

    

   Рассмотрен подход к когнитивной визуализации свойств многослойных защитных экранов, используемых при экранировании электронной аппаратуры при спецвоздействиях. Предложен иерархический подход к отображению информации об уровне защиты при анализе альтернативных проектных решений защитных экранов. Описано применение предложенного иерархического дескриптора в пользовательском интерфейсе системы автоматизированного расчёта и визуального анализа альтернативных проектных решений многослойных защитных экранов.

   ---

   Ключевые слова

   иерархический дескриптор; многослойные материалы; визуализация; радиационная стойкость; когнитивные технологии; радиационно стойкие защитные экраны

   Hierarchical descriptor for displaying information about multilayer radiationresistant shields for electronic equipment protection

   An approach to the properties cognitive visualization of multilayer protective screens used in the screening of electronic equipment under special impacts is considered. A hierarchical approach to displaying information about the protection level at the analysis of alternative design solutions for protective screens is proposed. The application of the proposed hierarchical descriptor in the user interface of the automated calculation system and visual analysis of alternative design solutions for multilayer protective screens is described.

   ---

   Keywords

   hierarchical descriptor; multilayer materials; visualization; radiation resistance; cognitive technologies; radiation resistant protective screens