Издательство
Каталог
Авторам
Рекламодателям
КонтактыВНИМАНИЕ!
Новый адрес редакций журналов Колодезный пер., 2 А.
ООО «Издательство «Инновационное машиностроение»
- КНИГИ Прайс-лист
- ЖУРНАЛЫ Прайс-лист
Книги и журналы, просмотренные ранее
Статьи автора
К последнему номеру журналаВсе статьи автора в журнале: Рябцев В.Г.
- Автоматизированная система верификации моделей микросхем памяти DDR3 SDRAMAutomated verification system of the DDR3 SDRAM memory chipsАвторы статьиAuthorsВолобуев С.В.Volobuev S.V.Рябцев В.Г.Ryabtsev V.G.Евсеев К.В.Evseev K.V.sergey-aspir14@yandex.rusergey-aspir14@yandex.ru
Автоматизированная система верификации моделей микросхем памяти DDR3 SDRAM
УДК 621.3.049.771.14
Предложен мультипроцессорный многоканальный автоматизированный испытательный стенд для верификации Verilog-моделей микросхем памяти DDR3 SDRAM, который формирует тестовые воздействия для четырёх смежных тактов обращения к микросхеме памяти. Верификация, выполненная в системе автоматизированного проектирования цифровых систем Active-HDL, позволила детально изучить сложный интерфейс связи памяти с контроллером и существенно сократить трудоёмкость проектирования архитектуры мультипроцессорного устройства, предназначенного для выполнения тестового диагностирования микросхем памяти DDR3 SDRAM и модулей памяти, построенных на данных микросхемах.
Ключевые слова
автоматизированная система; верификация; испытательный стенд; модель микросхемы памяти; устройство тестового диагностирования
Automated verification system of the DDR3 SDRAM memory chips
A multiprocessor multichannel automated test bench for the verification of Verilog models of DDR3 SDRAM memory chips which forms test influences for four adjacent accessing cycles to the memory chips is proposed. The verification performed in the computer-aided design of digital systems Active-HDL permits to study in detail the complex interface of communication between the memory and the controller and to reduce significantly the complexity of designing the architecture of a multiprocessor device intended for performing test diagnostics of DDR3 SDRAM memory chips and memory modules which is constructed on these chips.
Keywords
automated system; verification; test bench; memory chips model; test diagnostics device
- Автоматизированное проектирование средств самотестирования модулей памятиAutomated design of self-testing means of memory modulesАвторы статьиAuthorsВолобуев С.В.Volobuev S.V.Рябцев В.Г.Ryabtsev V.G.sergey-aspir14@yandex.rusergey-aspir14@yandex.ru
Автоматизированное проектирование средств самотестирования модулей памяти
УДК 621.3.049.771.14
DOI: 10.36652/0869-4931-2021-75-9-387-391
Раскрыты особенности маршрута автоматизированного проектирования, который определяет этапы проектных процедур, используемых на всех стадиях разработки, начиная от выработки и формализации идеи до тестирования готовых образцов. При проектировании средств самотестирования модулей памяти используются библиотеки логических элементов, которые адаптируются со схемотехническим представлением компонентов. Результаты прототипного проектирования с реализацией проекта на ПЛИС позволяют проверить правильность проектных решений по составу и структуре, которые можно в будущем реализовать в готовом приложении высокого класса в виде большой интегральной микросхемы.
Ключевые слова
верификация проекта; моделирование; модели логических элементов; модули памяти; программируемая логическая схема; средства самотестирования
Automated design of self-testing means of memory modules
In the article the features of the CAD route are disclosed. Computer-aided design defines the stages of design procedures used at all stages of development: from developing and formalizing an idea to testing finished samples. Logic element libraries are used to design self-test memory modules that adapt to the schematic representation of components. The results of prototype design with the implementation of the project on programmable logic device (PLD) allow you to check correctness of design decisions, such as composition and structure, which can be implemented in the future in high-end finished application in a large integrated microcircuit.
Keywords
project verification; modeling; models of logical elements; memory modules; programmable logic circuit; self-testing means
