Вы используете устаревший браузер.
Чтобы использовать все возможности сайта, загрузите и установите один из этих браузеров:
Google ChromeOperaSafariMozilla FirefoxInternet explorer 8Internet explorer 9

ВНИМАНИЕ!

Новый адрес редакций журналов Колодезный пер., 2 А.

ООО «Издательство «Инновационное машиностроение»

КНИГИ Прайс-лист
ЖУРНАЛЫ Прайс-лист

Все статьи автора в журнале: Кессаринский Л.Н.

  1. Расчет показателей надежности асинхронных схем
    Calculation of reliability indicators of asynchronous circuits

    Номер: 2023 / 09

    Аров И.М. | Arov I.M. | Кессаринский Л.Н. | Kessarinskiy L.N. | myfrei97@gmail.commyfrei97@gmail.com

    Авторы статьи
    Authors

    Аров И.М.
    Arov I.M.

    Кессаринский Л.Н.
    Kessarinskiy L.N.

    myfrei97@gmail.com
    myfrei97@gmail.com


    Расчет показателей надежности асинхронных схем

     

    УДК 004

    DOI: 10.36652/0869-4931-2023-77-9-423-426

     

    В рамках теории надежности выполнен расчет основных показателей надежности асинхронных схем: интенсивности отказов, времени гамма-процентной наработки до отказа и времени наработки до отказа, в котором в качестве исходных данных использована информация о надежности аналогичных элементов серийно выпускаемых асинхронных схем, включая показатели надежности, зависящие от воздействия ускоряющих факторов (температуры, электрического режима) и технологии изготовления схемы. На основе полученных результатов построены графики зависимости интенсивности отказов асинхронных схем от времени наработки.

     


    Ключевые слова

    асинхронная схема, надежность, отказ, показатель надежности

    Calculation of reliability indicators of asynchronous circuits

    The problems are considered. The calculation of the main reliability indicators of asynchronous circuits within the framework of the theory of reliability is performed: failure rate, gamma-percentage time to failure and time to failure. Information on the reliability of similar elements of commercially produced asynchronous circuits, including reliability indicators, depending on the impact of accelerating factors (temperature, electric mode) and circuit manufacturing technology is used as initial data. On the basis of the results obtained, graphs of the failure rate dependence for asynchronous circuits from the operating time are constructed.


    Keywords

    asynchronous scheme, reliability, failure, reliability indicator

Идет загрузка
НАЗАД
Для перехода на предыдущую страницу используйте эту кнопку