Все статьи автора в журнале: Щагин А.В.

1. Методы и алгоритмы диагностирования неисправностей устройств многофункциональной индикации, позволяющие определять текущее и прогнозное состояния работоспособности систем

   Method and algorithms for diagnosing defect of multifunctional indicator devices allowing determination of the current and predictable system performance

   Номер: 2026 / 10

   Уманский Д.М. | Umanskiy D.M. | Щагин А.В. | SCHagin A.V. | umanskiy.dan@gmail.com, schagin4@rambler.ruumanskiy.dan@gmail.com, schagin4@rambler.ru

   Авторы статьи

   Authors

   Уманский Д.М.

   Umanskiy D.M.

   Щагин А.В.

   SCHagin A.V.

   umanskiy.dan@gmail.com, schagin4@rambler.ru

   umanskiy.dan@gmail.com, schagin4@rambler.ru

   ---

   Методы и алгоритмы диагностирования неисправностей устройств многофункциональной индикации, позволяющие определять текущее и прогнозное состояния работоспособности систем

    

   УДК 621.3

   DOI: 10.36652/0869-4931-2026-80-10-565-571

    

   Рассмотрены подходы к разработке систем технического диагностирования устройств многофункциональной индикации. Систематизирован словарь признаков и предложена одноуровневая архитектура диагностирования в части классификации состояний устройства в условиях жестких временных ограничений процедуры функционального диагностирования. Разработан алгоритм контроля и прогнозирования состояния устройства на основе многослойной нейронной сети обратного распространения ошибки, позволяющий аппаратно реализовать встраиваемый диагностический модуль.

   ---

   Ключевые слова

   устройство многофункциональной индикации, многослойная нейронная сеть, техническое диагностирование, модель классификации

   Method and algorithms for diagnosing defect of multifunctional indicator devices allowing determination of the current and predictable system performance

   Approaches t o developing technical diagnostic systems for multifunctional indicator devices are considered. A feature dictionary is systematized, and a single-level diagnostic architecture for classifying device states under strict time constraints during the functional diagnostic procedure is proposed. An algorithm for monitoring and predicting device state based on a multilayer backpropagation neural network, enabling the hardware implementation of an embedded diagnostic moduleis developed.

   ---

   Keywords

   multifunctional indication device, multilayer neural network, technical diagnostics, classification model